采用点光谱共焦位移传感器测量，精度可达微米、亚微米级别；

可单头测量也可双头对射测量，对射模式可完全消除因工件底面不平造成的测量误差；

集成视觉影像测量，兼顾测量工件的表面二维尺寸；

可取任意位置的进行单测量，也可用扫描点集的方式扫出阵列点集后测量，取点数量不受限制；

采用平台移动的方式，保证点光谱位移传感器对射测厚的精度完全不受平台位移影响。

简单友好的用户界面，测量编程、操作控制等常用功能一键触达;

支持接触式星形探针、3D线扫激光、点光谱共焦位移传感器、线光谱共焦位移传感器等多种类型传感器的叠加组合式应用;

具备自动对焦、自动寻边、自动打光等功能，配合控制平台移动，可实现同规格产品大批量快速测量;

支持基于CAD图纸导入的快速测量、自动扫码及地图导航等附加功能; 

支持Excel、PDF、Word、TXT等多种报表格式导出，并提供丰富的参数项选择;

具备完善的温度补偿机制，并支持按“温度模式”和“比例模式”两种方式进行补偿，方便不同场景下的快速精度修正。